全国政协委员方向： 全面提升芯片计量测试能力

　　作为高科技“皇冠上的明珠”，芯片是关系经济社会发展的基础性、先导性和战略性产业。计量是实现测量一致性和精密性的科学，能够为芯片制造不断突破尺寸极限提供最准“标尺”，是芯片产业高质量发展的底层根基。

　　“测得出才造得出，测得准才造得精。新形势下，我国芯片研发计量能力面临严峻挑战。”全国政协委员、中国计量科学研究院院长方向呼吁，要前瞻布局，全面提升芯片计量测试能力，加快发展新质生产力。

　　方向委员指出，我国测量精度量级与国际先进水平存在代际差距。在整体测量精度由精密级向超精密级的创新突破中，我国长期处于追赶状态。关键测量仪器和测量标准“两头在外”，测量能力受制于人。国内芯片制造企业校准用标准样板多来自进口，导致我国芯片产业相关量值不得不溯源到国外，存在溯源链随时中断风险。

　　此外，我国缺乏面向高端芯片计量研发的系统性布局。“随着芯片制程不断向极限尺度逼近，芯片结构将从平面结构向更复杂立体结构转变，现有计量技术体系必将遇到瓶颈。但目前我国缺乏计量支撑芯片产业发展的系统性布局，没有部署国家实验室和全国重点实验室开展计量基础前沿研究，新型举国体制优势尚未显现，在全球芯片竞争中可能会处于落后地位。”方向委员说。

　　如何改变这种局面？

　　方向委员建议，在国家芯片战略设立计量研发子计划，强化重大项目优先支持，全面提升更小尺度、更多维度和更多参量的计量能力，为全球新一轮芯片产业竞争提供强大计量动力。前瞻布局先进计量技术全国重点实验室，依托计量基准和国家计量院等战略资源，聚集全国优质创新要素，加快建设芯片研发计量重大技术创新策源地。

　　他还呼吁，面向芯片产业链计量测试需求，积极支持建设国家产业计量测试中心，解决成熟制程芯片“测不了、测不全、测不准”痛点难题，全面提升国产芯片良品率和质量可靠性。（光明日报全媒体记者陈海波 光明网记者武玥彤）